Koh Young Neptune

L.I.F.T.™ technológia

• Elv:
  • Laser Interferometry for Fluid Tomography – alacsony koherenciájú NIR interferometria.
  • Nedves és száraz állapotban is pontos, valódi 3D térképezés, érdes/egyenetlen felületen is.
• Eredmény:
  • Vastagság-, fedettség- és egyenletesség-térképek 2D/3D és keresztmetszeti nézetben.
  • Buborékok/zárványok detektálása ~ 200 µm-ig; fröccsenések felismerése ~ 100 µm környékén.

Szoftver és automatizálás

• AI-támogatott ellenőrzés: autonóm buborék- és hibaészlelés minimális tanítással.
• Varázsló-alapú programozás: intuitív UI, gyors receptkészítés, gyors átállás.

In-line integráció és opciók

• Kétoldalas vizsgálat: integrált flipper opció felső/alsó oldalhoz.
• Hosszú panel támogatás: alapból 1300 mm-ig, opcióval 1800 mm-ig.
• Termékcsalád: Neptune C (jelenlét/hibadetektálás) és Neptune C+ (teljes 3D vastagságmérés).

Műszaki adatok (válogatás)

• PCB tömeg: standard ~ 5 kg; flipperes konfiguráció ~ 3 kg.
• Tápellátás: ~ 220 VAC, 50/60 Hz; tipikus szállítási irány: L → R (modellfüggő).

Tipikus alkalmazások

• Konform bevonat térképezése (lábankénti fedettség, vastagságtrendek).
• Underfill, dam & fill, epoxy/bonding/flux mennyiségi ellenőrzése.
• NPI, folyamatoptimalizálás, 100% in-line DPI minőségbiztosítás.

Elismerések

• Global Technology Award (2021), Circuits Assembly NPI Award (2022) – úttörő DPI-technológia.

A Koh Young Neptune C+ a DPI új mércéje: patentelt L.I.F.T.™ technológiával, valódi 3D vastagságméréssel és AI-támogatott hibaészleléssel teszi mérhetővé és stabilizálhatóvá a bevonat- és adagolási folyamatokat – laborban és soron egyaránt.