Sunmenta SVII-P6 / K80 / K100

Közös képességek

• Felülvizsgálható paraméterek:
  • Nyílásterület, méret, pozíció, eltolódás.
  • Sorja (burr), eltömődés, hiányzó nyílás, idegen anyag.
• Gyors, automatizált ellenőrzés:
  • Példa: egy ~ 230 × 150 mm-es minta teljes átvizsgálása kb. 2 perc, SPC kiértékeléssel együtt.
• Kapcsolódás és adatkezelés:
  • Ethernet / Wi-Fi interfészek, egyszerű integráció gyártósorba és akár MES rendszerekbe.
  • Jelentések, trendek, folyamatos SPC és visszakeresés.

Modellek

• SVII-P6 – kompakt belépőmodell
  • Teljes felületű 2D vizsgálat a fő hibakategóriákra.
  • Gyors beállás, kis helyigény; ideális laborhoz, NPI-hez, mintavételes ellenőrzéshez.
• SVII-K80 – nagyobb áteresztés, standard 2D optika
  • Nagy sebességű automatikus vizsgálat, ipari üzemre hangolva.
  • Bejövő átvételhez és tisztítás utáni ellenőrzéshez egyaránt alkalmas.
• SVII-K100 – prémium 3D AOI
  • 3D AOI a nyílások mikrogeometriájának feltárásához; optikai felbontás 10 µm.
  • Megvilágítás: felső piros koaxiális, alsó fehér LED a kontrasztos értékeléshez.
  • Gépméret: kb. 1130 × 1215 × 1500 mm (Sz × H × M).

Alkalmazási területek

• Új stencil(ek) bejövő átvétele és dokumentált jóváhagyása.
• Tisztítás utáni ellenőrzés – eltömődés és sorja gyors kiszűrése.
• Folyamatstabilizálás – trendek és SPC alapján optimalizált karbantartási ciklusok.

Gyors kiválasztási segédlet

• SZŰK hely, gyors mintavétel: SVII-P6.
• Napi üzem, nagyobb áteresztés 2D-ben: SVII-K80.
• Legmagasabb minőség, 3D profil és 10 µm értékelés: SVII-K100.

A Sunmenta SVII-P6 / K80 / K100 skálázható stencil-AOI portfóliót ad a teljes életciklus kontrolljához: a P6 gyors mintavételezéshez, a K80 standard 2D, nagy áteresztéssel, míg a K100 3D AOI-val és 10 µm felbontással biztosít kvantitatív, reprodukálható döntéstámogatást.